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キーワード:JEITA

2016.11.29

SiC-SBDとは-信頼性試験について

半導体デバイスの評価を行う際には、電気的および機械的仕様と性能はもちろん、信頼性も重要な要素になります。特に、パワーデバイスは大きな電力を扱うことが前提であり、十分な信頼性を備えている必要があります。...

キーワード:
ED-4701
JEITA
SiC-SBD
SiCショットキーバリアダイオード
SiC信頼性
SiC信頼性試験

2017.09.26

SiC-MOSFETとは-SiC-MOSFETの信頼性

今回は、SiC-MOSFETの信頼性について説明します。ここでの情報やデータは、あくまでもロームのSiC-MOSFETに関するものです。また、SiCパワーデバイスはMOSFETにかかわらず、日進月歩で...

キーワード:
CSS TDDB
dV/dt破壊
ED-4701
EIAJ
ESD
High Temperature Gate Bias
HTGB
IGBT
JEITA
QBD
SiC-MOSFET
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SiC信頼性
SiC信頼性試験
しきい値安定性
ゲート酸化膜
ボディダイオード通電劣化
宇宙線起因中性子耐量
短絡耐量
積層欠陥
経時絶縁破壊
静電気破壊耐量
高温ゲートバイアス