非点隔差 (As)

非点隔差 (As): 測定方法

非点隔差は[図1]に示しますナイフエッジ法により測定します。
半導体レーザーのビームをナイフエッジで一方から切っていきます。

ナイフエッジを通過した光量とナイフエッジの位置 (X) をプロットするとレーザービームの積分値が得られます。[図2]

これを微分する事によりビーム径（半値全角）が測定できます。[図3]

半導体レーザーの端面位置 (Z) を動かしてビーム径を測定します。
半導体レーザーの接合方向に垂直な方向、水平な方向それぞれのビーム径と端面位置をプロットします。[図4]

2つのビーム径の最小値の位置から非点隔差が求められます。